ROF Balanced Photodetector เครื่องตรวจจับแสงความไวสูง เครื่องตรวจจับแสงซิลิคอนพร้อมการขยายสัญญาณ
คุณสมบัติ
➡ ช่วงสเปกตรัม：320-1,000、850-1650nm
➡ แบนด์วิธ 3dB 200MHz
➡ เสียงรบกวนต่ำ
➡ กำไรสูง
➠ แหล่งจ่ายไฟ DC 15V
แอปพลิเคชัน
➡การตรวจจับเฮเทอโรไดน์
➡การวัดความล่าช้าด้วยแสง
➡ระบบตรวจจับใยแก้วนำแสง
➠(ต.ค.)
พารามิเตอร์
พารามิเตอร์ประสิทธิภาพ
| พิมพ์พารามิเตอร์ | ROF-BPR-200M-A | ROF-BPR-200M-B |
| ช่วงการตอบสนองสเปกตรัม | 850~1650นาโนเมตร | 320~1,000 นาโนเมตร |
| ประเภทวัสดุ | อินกาแอส | Si |
| อินพุตแสง | ||
| การตอบสนอง | 0.9A/วัตต์@1550นาโนเมตร | 0.5A/วัตต์@700นาโนเมตร |
| แบนด์วิธ 3dB | ดีซี-200เมกะเฮิรตซ์ | ดีซี-200เมกะเฮิรตซ์ |
| เวลาเพิ่มขึ้น | 1.5ns | 1.5ns |
| ซีเอ็มอาร์อาร์ | >20 เดซิเบล | >20 เดซิเบล |
| รับเอาต์พุต @RF | 1.1×104V/วัตต์ | 0.6×104V/วัตต์ |
| พลังเสียงเทียบเท่า | 7pw/√เฮิร์ตซ์ | 14pw/√เฮิร์ตซ์ |
| พลังงานแสงอิ่มตัว @เอาท์พุท RF | -5dBm | -2dBm |
| แหล่งจ่ายไฟ | กระแสตรง ±12V | |
| หน้าแปลนอินพุต | FC | |
| ขั้วต่อเอาต์พุต | สมา | |
| ความต้านทานเอาต์พุต | 50 | |
| วิธีการต่อเอาต์พุต | AC | |
| กำลังแสงอินพุตสูงสุด | 10มิลลิวัตต์ | |
| อุณหภูมิในการทำงาน | 0-40 ℃ | |
| อุณหภูมิในการจัดเก็บ | -40~85℃ | |
| ขนาด | 78 x 68 x 45 มม | |
| แบบอย่าง | ช่วงความยาวคลื่น | แบนด์วิธ 3dB | ความไว dBm | ได้รับ V/W | ซีเอ็มอาร์อาร์ เดซิเบล | ขั้วต่อเอาต์พุต |
| BPR-40G-A | 1480-1620 นาโนเมตร | 37GHz | -10 | 1200 | 25 | K |
| BPD-10G-A | 1,064-1650 นาโนเมตร | 15K-10GHz | -15 | 40 | ||
| BPR-1.6GA | 850-1700 นาโนเมตร | 0.3-1.6GHz | -27 | 14K | SMA(ฉ) | |
| BPR-350M-A | 850-1700 นาโนเมตร | 350MHz | -27 | 30ก | ||
| BPR-350M-B | 320-1100 นาโนเมตร | -30 | 15ก | |||
| BPR-200M-A | 850-1700 นาโนเมตร | 200MHz | -33 | |||
| BPR-200M-B | 320-1100 นาโนเมตร | -30 | ||||
| BPR-80M-A | 850-1700 นาโนเมตร | 80MHz | -38 | |||
| BPR-80M-B | 320-1100 นาโนเมตร | -35 |
เส้นโค้ง
เส้นโค้งลักษณะเฉพาะ
เส้นโค้งการตอบสนองสเปกตรัม แผนภาพวงจรภายใน
ขนาด (มม.)
ข้อมูล
ข้อมูลการสั่งซื้อ
| รฟ | บีพีอาร์ | XXX | X | XX |
| ประเภทโมดูลการตรวจจับ： BPR— Photoreveiver ที่สมดุล | แบนด์วิธในการทำงาน： 200M---200MHz | ช่วงตอบสนองความยาวคลื่น A--- 850~1650nm | วิธีการเชื่อมต่อ: FC |
* โปรดติดต่อผู้ขายของเราหากคุณมีข้อกำหนดพิเศษ
เกี่ยวกับเรา
Rofea Optoelectronics จัดแสดงผลิตภัณฑ์อิเล็กโทรออปติกหลากหลายประเภท รวมถึงโมดูเลเตอร์, เครื่องตรวจจับแสง, แหล่งกำเนิดเลเซอร์, เลเซอร์ dfb, เครื่องขยายสัญญาณแสง, EDFA, เลเซอร์ SLD, การปรับ QPSK, เลเซอร์พัลซ์, เครื่องตรวจจับแสง, เครื่องตรวจจับแสงแบบสมดุล, เลเซอร์เซมิคอนดักเตอร์, ไดรเวอร์เลเซอร์, ข้อต่อไฟเบอร์, เลเซอร์แบบพัลซ์ เครื่องขยายสัญญาณไฟเบอร์ มิเตอร์กำลังแสง เลเซอร์บรอดแบนด์ เลเซอร์แบบปรับได้ ความล่าช้าของแสง เครื่องปรับสัญญาณไฟฟ้าออปติก เครื่องตรวจจับแสง ตัวขับไดโอดเลเซอร์ เครื่องขยายสัญญาณไฟเบอร์ เครื่องขยายสัญญาณไฟเบอร์เจือเออร์เบียม และเลเซอร์ต้นทาง
นอกจากนี้เรายังมีโมดูเลเตอร์แบบกำหนดเอง รวมถึงโมดูเลเตอร์เฟสอาเรย์ 1*4, Vpi ต่ำพิเศษ และโมดูเลเตอร์อัตราส่วนการสูญเสียสูงเป็นพิเศษ ซึ่งออกแบบมาเป็นพิเศษสำหรับมหาวิทยาลัยและสถาบันวิจัย
ผลิตภัณฑ์เหล่านี้มีแบนด์วิธอิเล็กโทรออปติกสูงถึง 40 GHz ช่วงความยาวคลื่นตั้งแต่ 780 นาโนเมตรถึง 2000 นาโนเมตร การสูญเสียการแทรกต่ำ Vp ต่ำ และ PER สูง ทำให้เหมาะสำหรับลิงก์ RF แบบอะนาล็อกที่หลากหลายและแอปพลิเคชันการสื่อสารความเร็วสูง
Rofea Optoelectronics นำเสนอกลุ่มผลิตภัณฑ์ของตัวปรับแสงไฟฟ้าเชิงพาณิชย์, ตัวปรับเฟส, ตัวปรับความเข้ม, ตัวตรวจจับแสง, แหล่งกำเนิดแสงเลเซอร์, เลเซอร์ DFB, ตัวขยายแสง, EDFA, เลเซอร์ SLD, การมอดูเลต QPSK, เลเซอร์พัลส์, เครื่องตรวจจับแสง, เครื่องตรวจจับแสงที่สมดุล, ไดรเวอร์เลเซอร์ , เครื่องขยายสัญญาณไฟเบอร์ออปติก, มิเตอร์วัดกำลังแสง, เลเซอร์บรอดแบนด์, เลเซอร์แบบปรับได้, เครื่องตรวจจับแสง, ไดร์เวอร์เลเซอร์ไดโอด, เครื่องขยายสัญญาณไฟเบอร์นอกจากนี้เรายังมีโมดูเลเตอร์เฉพาะจำนวนมากสำหรับการปรับแต่ง เช่น โมดูเลเตอร์เฟสอาเรย์ 1*4, Vpi ต่ำพิเศษ และโมดูเลเตอร์อัตราส่วนการสูญเสียสูงพิเศษ ซึ่งส่วนใหญ่ใช้ในมหาวิทยาลัยและสถาบัน
หวังว่าผลิตภัณฑ์ของเราจะเป็นประโยชน์กับคุณและการวิจัยของคุณ
